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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
電子產(chǎn)品高溫低溫老化測(cè)試方法步入式高低溫試驗(yàn)箱：
步入式高低溫試驗(yàn)箱主要用過(guò)測(cè)試電子產(chǎn)品、零部件在在高溫、低溫綜合環(huán)境下各項(xiàng)性能指標(biāo)。而對(duì)于汽車(chē)來(lái)說(shuō)，不管是IC、儀表板、馬達(dá)、藍(lán)牙、車(chē)燈、外殼、還是整車(chē)等都需要用到高低溫試驗(yàn)確保其性能可以在汽車(chē)行駛的過(guò)程中正常穩(wěn)定運(yùn)行。步入式高低溫試驗(yàn)箱是為了滿(mǎn)足用戶(hù)對(duì)大容積試驗(yàn)空間的要求而設(shè)計(jì)的，它從結(jié)構(gòu)上可分為整體焊接式和拼裝式。
準(zhǔn)備測(cè)試設(shè)備：需要使用能夠控制溫度的高低溫測(cè)試設(shè)備，如高低溫循環(huán)箱、烤箱等。
制定測(cè)試計(jì)劃：根據(jù)產(chǎn)品的規(guī)格書(shū)和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，制定詳細(xì)的測(cè)試計(jì)劃，包括測(cè)試條件、測(cè)試持續(xù)時(shí)間、測(cè)試結(jié)果等。
樣品準(zhǔn)備：選擇一定數(shù)量的樣品進(jìn)行測(cè)試，并按照產(chǎn)品規(guī)格書(shū)要求的方式進(jìn)行安裝和連接。
預(yù)熱：在進(jìn)行測(cè)試前，需要將測(cè)試設(shè)備預(yù)熱至測(cè)試溫度，以確保測(cè)試環(huán)境穩(wěn)定。
開(kāi)始測(cè)試：將樣品放入測(cè)試設(shè)備中進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試時(shí)間和溫度要符合測(cè)試計(jì)劃中的要求。
監(jiān)測(cè)和記錄：測(cè)試過(guò)程中需要及時(shí)監(jiān)測(cè)樣品的工作狀態(tài)，如電流、電壓、功耗等，并記錄測(cè)試結(jié)果。
測(cè)試后處理：測(cè)試結(jié)束后，需要對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和處理，如制作測(cè)試報(bào)告、評(píng)估產(chǎn)品的性能和可靠性等。
高低溫測(cè)試檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007
試驗(yàn)條件：將電子產(chǎn)品放入高低溫試驗(yàn)箱通電老化
高溫參數(shù)設(shè)置：溫度45℃、濕度80% RH、時(shí)間24 hrs
低溫參數(shù)設(shè)置：低溫0℃、時(shí)間24 hrs
試驗(yàn)方法：
試驗(yàn)一：高溫運(yùn)行
1、樣品應(yīng)在不包裝、不同點(diǎn)和正常工作位置的狀態(tài)下放入具有室溫的試驗(yàn)箱內(nèi)，
2、箱內(nèi)溫度逐漸升溫至所設(shè)置的溫度，當(dāng)電子產(chǎn)品達(dá)到溫度穩(wěn)定后，接通電源持續(xù)工作16小時(shí)，
3、樣品斷開(kāi)電源，箱內(nèi)溫度降低至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下，
4、恢復(fù)兩小時(shí)；
5、對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品進(jìn)行全方面的檢測(cè)。
試驗(yàn)二：低溫運(yùn)行
1、電子產(chǎn)品應(yīng)在不包裝、不同點(diǎn)和正常工作位置的狀態(tài)下放入具有室溫的試驗(yàn)箱內(nèi);，
2、高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)溫度逐漸降低至所設(shè)置的溫度，當(dāng)樣品達(dá)到溫變穩(wěn)定后擱置2小時(shí)，然后接通電源持續(xù)工作1小時(shí)；
3、樣品斷開(kāi)電源，試驗(yàn)箱內(nèi)溫度降低至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下，
4、箱內(nèi)溫度上升至正常試驗(yàn)大氣條件范圍內(nèi)的常溫常壓下，
5、恢復(fù)兩小時(shí)；
6、對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品進(jìn)行全方面的檢測(cè)；判定標(biāo)準(zhǔn)：
